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材料可靠性、失效分析 涂鍍層測厚儀

  • 日立EA1000VX X射線熒光分析儀 詳細說明

對應環境限制物質管理、可快速且簡單測量有害物質的X射線熒光分析儀。

1. 快速測量

與之前的機器SEA1000AII相比,每個樣品的測量時間*都縮短了。例如,樹脂類樣品測量時間縮短了約1/3,金屬類則縮短了1/10。實現了處理量(每天可測樣品數量)的飛躍性提高。

塑料中的
Cd,Pb,Hg,Br,Cr
高濃度BrSb塑料中的
Cd,Pb,Hg,Cr
黃銅中的
Cd,Pb,Hg,Br,Cr
EA1000VX 約30秒 120秒以內 200秒以內
SEA1000AII 約100秒 360秒以內 2000秒以上

表.1 為EA1000VX與SEA100AII樣品測量時間(平均值)

*Cd為20 ppm,除此以外的元素是為了達到100 ppm的檢測最低限所必要的總共時間。(本公司推薦條件下實施)

2. 高技術率檢測器(Vortex)

不需要液氮,使用最大15萬cps的高計數率檢測器(Vortex)測量高靈敏度化,實現快速測量及高精度測量等。

3. 通過環境限制物質測量軟件Ver.2的各種新功能,強化了有害物質測量功能—材料判斷功能

測量開始后短時間內就可測量樣品的材質種類。以往,在測量前需要選擇分析菜單,由于裝置可以自動判斷材質,不會在選擇分析菜單時感到迷茫。

4. 提高操作性—操作面板

根據操作面板的指示器和提示音,了解測量進度。根據測量面板的進度條,把握測量進展。

5. 各種環境限制用的標準物質

除RoHS指令的管理對象元素(Cd,Pb,Cr,Hg,Br)以外,我公司也開發和制造能對應管理Cl、Sb、Sn等的標準物質。

6. 自動進樣器(選購項)

自動進樣器最多可連續測量12個樣品。

7. 通過環境限制物質測量軟件Ver.2進行數據集中管理和趨勢管理


使用精度管理軟件使測量時間變短,通過利用數據庫對據點內測量數據進行的集中管理(檢索、瀏覽、解析、編輯、印刷、報告書生成),可測量檢查的效率,達到消減成本。



測量元素 原子序數Al(13)~U(92)
樣品形狀 液體、粉體、固體
X射線源 小型空冷室X射線管
管電壓50(可變) kV
管電流10~1000 μA
X射線照射方向 下方垂直照射型
檢測器 Si半導體檢測器(無需液氮)
分析區域 1、3、5 mmΦ(自動切換)
樣品觀察 彩色CCD攝像頭
濾波器 5種模式自動切換
最大樣品尺寸 370(W)×320(D)×120(H) mm
儀器尺寸 520(W)×600(D)×445(H) mm
重量 60 kg
電源/額定功率 AC100~240 V(50/60 Hz)/210 VA
樣品交換機 可安裝 *選購項

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